产品特点
1。高速，300兆赫高频测量
的im7580可以在频率范围从1兆赫到300兆赫进行测量。在LCR的经营模式，这是在一个单一的频率进行测量，阻抗分析仪可用于生成通过和失败的结果在运输过程中的检查。在分析仪模式下工作，在测量过程中频率变化，分析仪可以用来评估产品开发和其他各种应用的特性。
2。生产率以非常稳定、高速的速度提高，速度可达0.5毫秒。
的im7580可达到0.5毫秒快速进行高速测量（0.0005秒）。对于希望快速测试大量零件的电子元件制造商来说，这种速度优势可以大大提高生产率。
此外，测量重复性增加了从遗产日置模型10的一个因素，能够稳定地测量，提高生产产量，提高生产率。
三.紧凑的足迹，降低生产成本
电子元件制造商通过在设备机架上安装各种类型的设备，在其生产线上建立自动测试系统。小型设备意味着更紧凑的测试系统，以及在较少的空间安装多台仪器的能力，缩短了测试时间，降低了生产成本。
由于仪器的半机架尺寸（215 [水]×200 [ H ]×268 [ D ]毫米），两im7580单位可以放入一个标准机架宽度。
4。基于各种判断函数的通过/失败判断
LCR模式，其中的测量是在一个单一的频率进行，提供比较器功能产生通过/失败的电子元件的判断以及排序功能组件箱。比较器函数允许客户设置上限和下限，然后根据这些标准生成传递/失败结果。当比较器函数基于一组标准生成判断时，bin函数允许用户设置10组判断标准，然后相应地排列相应的部分。
分析器模式，在执行测量时频率变化，提供基于电子元件频率特性的通过/失效判断的区域和峰值比较功能。区域判断允许用户验证测量值落在先前配置的判断区域内，而峰值判断允许用户基于先前配置的上、下、左、右限制来检测谐振点。