出售 Keithley 2612B 数字源表

产品描述

产品描述：

作为2600B系列源表SMU系列产品的一部分，2612B源表SMU是全新改良版双通道SMU，具有紧密集成的4象限设计，能同步源和测量电压/电流以提高研发到自动生产测试等应用的生产率。除保留了2612A的全部产品特点外，2612B还具有6位半分辨率、USB 2.0连接性以及能轻松移植遗留测试代码的2400源表SMU软件指令仿真。2612B配备了吉时利的高速TSP?技术（比传统PC至仪器的通信技术快200%），这极大提高了系统级速度，降低了测试成本。TSP-Link?接口实现了多通道并行测试并扩展了测试系统，没有主机开销。1.5A直流、10A脉冲和200V输出的宽量程让2612B适于测试宽范围较高电压和较大电流器件、材料、组件和分装件。

2612B源表SMU，双通道（100fA、200V、1.5A直流/10A脉冲）

源/测量功能

- 双通道型号具有60W输出功率（30W/通道

- 4象限源/测量具有6位半分辨率

- 电流最大值/最小值：1.5A直流、10A脉冲/100fA

- 电压最大值/最小值：200V/100nV

一般特性

- 内建“即插即用”基于Java的I-V特性分析和测试软件

- TSP?（测试脚本处理）技术在测量仪器内嵌入了完整测试程序

- TSP-Link?扩展技术面向多通道并行测试

- 软件仿真基于吉时利2400源表SMU

- 大屏幕、易于阅读、双行显示。

2600B系列数字源表是吉时利最新的I-V源-测量仪器，既可以用作桌面级I-V特性分析工具，也可以成为多通道I-V测试系统的组成部分。对于桌面级的应用，2600B系列提供一款嵌入式TSP® Express测试软件，允许用户快速、方便地进行常用的I-V测试。对于系统级应用，2600/B的TSP架构和新增功能，例如，并行测试能力和精密时钟同步，提供了业界最高吞吐量，从而降低了测试成本。

2600B系列数字源表以性能的扩展替代受欢迎的2600A系列数字源表。因为2600B系列提供后向代码兼容至2600A系列，所以客户能用2600B系列简易替换2600A系列。

* 一个紧凑的单元中综合了如下功能：精密电压源、高精度电流源、数字多用表、任意波形发生器、电压或电流脉冲发生器、电子负载以及触发控制器代码后向兼容2600系列数字源表，便于更换 TSP® Express软件工具实现快速、便捷的I-V测试精密定时和信道同步（<500ns）

* 执行并行测试，获得无以伦比的吞吐量

* 20,000读数/秒提供更快的测试时间和能力，捕捉器件瞬态性能

* 系列产品提供宽动态范围： 1fA~10A和1µV~200V

* TSP-Link^®总线支持每GPIB或IP地址多达32单元/64通道的通道扩展

* 测试脚本处理器（TSP^®）以极高的系统自动化在仪器中执行完整的测试程序（脚本）

* USB端口用于保存数据和测试脚本

* LXI Class C兼容性提供高速数据传输并且实现快捷地远程测试、监控和排错

型号

特性

用途

Keithley2601B（单通道）

Keithley2602B（双通道）
完全40V，单通道电流：3A直流；10A脉冲，分辨率100fA、100nV。 多种大电流器件、材料、元件和组件进行测试，作为精确和稳定的电流/电压信号源，并进行测试。

Keithley2611B（单通道）

Keithley2612B（双通道）
完全200V，单通道电流：1.5A直流；10A脉冲，分辨率100fA，100nV 多种大电流器件、材料、元件和组件进行测试，作为精确和稳定的电流/电压信号源，并进行测试。

Keithley2635B（单通道）
Keithley2612B（双通道）
完全200V，单通道电流：1.5A直流；10A脉冲，分辨率0.1fA，100nV
对多种器件和材料进行测试。

对尖端半导体和纳米技术器件以及精细材料（如石墨烯）进行精确测量。

吉时利 2612B 数字源表

产品描述

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型号	特性	用途
Keithley2601B（单通道） Keithley2602B（双通道）	完全40V，单通道电流：3A直流；10A脉冲，分辨率100fA、100nV。	多种大电流器件、材料、元件和组件进行测试，作为精确和稳定的电流/电压信号源，并进行测试。
Keithley2611B（单通道） Keithley2612B（双通道）	完全200V，单通道电流：1.5A直流；10A脉冲，分辨率100fA，100nV	多种大电流器件、材料、元件和组件进行测试，作为精确和稳定的电流/电压信号源，并进行测试。
Keithley2635B（单通道） Keithley2612B（双通道）	完全200V，单通道电流：1.5A直流；10A脉冲，分辨率0.1fA，100nV	对多种器件和材料进行测试。对尖端半导体和纳米技术器件以及精细材料（如石墨烯）进行精确测量。